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精确测量残余奥氏体的含量,对于热处理的控制是非常重要的,X射线衍射法(XRD)是唯一可以测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法,残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。
武汉科赛思提供的产品有:圆度仪,圆柱度仪,轮廓测量仪,表面粗糙度仪,三坐标测量机,便携式三坐标测量臂,测高仪,高度仪、影像测量仪,万能测长仪,测量投影仪,金相显微镜,万能工具显微镜,扫描电子显微镜,涂镀层测厚仪,超声波测厚仪,凸轮轴综合测量机,曲轴综合测量机,齿轮测量中心,刀具预调测量仪,直读光谱仪,便携式光谱仪,合金元素分析仪,重金属元素分析仪,贵金属元素检测仪,X射线衍射仪,残余应力分析仪,日本三丰量具,瑞士TESA量具,德国马尔量具,东京精密主动测量仪等精密计量检测仪器;产品涵盖长度计量仪器、试验仪器、测绘仪器、分析仪器、实验仪器、环境试验设备、建筑仪器、光学仪器、无损检测、量具刃具。
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武汉科赛思机电有限公司.
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